膜厚仪,捷扬光电科技自有品牌(优质商家),膜厚仪检测

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捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪参数厚度范围:0.5-100 μm光谱范围:200-1100 nm精度:0.05 μm 或3%分辨率:0.001μm重复性:0.02 μm重现性:0.05 μm厚度单位:μm重量单位:gsm主控制...


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捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪参数


厚度范围:0.5-100 μm

光谱范围:200-1100 nm

精度:0.05 μm 或3%

分辨率:0.001μm

重复性:0.02 μm

重现性:0.05 μm

厚度单位:μm

重量单位:gsm

主控制箱尺寸:300x223x130 mm

主控制箱重量:6 kg

罐体检测箱尺寸:357x458x797 mm

罐体检测箱重量:35 kg

片状支架尺寸:φ200x214 mm

片状支架重量:1.5 kg

电源:220V/50Hz

数据输出:软件保存到数据库或RS232

输出样品尺寸:片状,直径大于10mm

供气:无


捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪重复性报告

JFD-2000非接触膜厚检测仪重复性、重现性数据报告

重复性检测说明:

样品使用片状涂膜样品,样品厚度约为:4um ,在样品不动的情况下,重复测量50次样品的厚度值。

重现性检测说明:

使用片状涂膜样品,样品厚度约为:4um,检测样品点不变,反复拿出样品和放入样品检测50次的厚度值。

  

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