捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪 有机发光膜的厚度检测
有机发光显示器正迅速从实验室转向大规模生产。明亮，超薄，动态的特性使它们成为从手机到电视显示屏的选择。组成显示屏的多层薄膜的精密测量非常重要，但不能用传统接触型的轮廓仪，因为它会破坏显示屏表面。我们的JFD-2000膜厚检测仪将提供廉价，可靠，非侵入测量原型装置和全像素化显示屏。我们的光谱仪还可以测量大气敏感材料的化学变化。
测量透明导电氧化膜 不论是铟锡氧化物，氧化锌，还是聚合物（3,4-乙烯基），我们独有的光学模型，加上可见/近红外仪器，可以测得厚度和光学常数，费用和操作难度仅是光谱椭偏仪的一小部分。 测量复杂的有机材料 典型的有机发光显示膜包括几层： 空穴注入层，空穴传输层，以及重组/发光层。所有这些层都有不寻常有机分子（小分子和/或聚合物）。虽然有机分子高度反常色散，测量这些物质的光谱反射充满挑战，但对捷扬光电的JFD-2000却不尽然。我们的材料数据库覆盖整个OLED的开发历史，能够处理随着有机分子而来的高折射散射和多种紫外光谱特征。 软基底上的薄膜 有机发光显示器具有真正柔性显示的潜力，要求测量像PET（聚乙烯）塑料这样有高双折射的基准，这对托偏仪测量是个严重的挑战： 或者模拟额外的复杂光学，或者打磨PET背面。 而这些对我们非偏振反射光谱来说都不需要，极大地节约了人员培训和测量时间。 操作箱中测量 有机发光显示器材料对水和氧极度敏感。 很多科研小组都要求在控制的干燥氮气操作箱中测量。 而我们体积小，模块化，光纤设计的仪器提供非密封、实时“操作箱”测量。 捷扬光电 提供 免费测试 - 一般 1-2 天得到结果。 联络 我们讨论您的测量需要。
捷扬光电 JFD-2000膜厚检测仪原理
捷扬光电的JFD-2000，是一台非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理测量薄膜厚度。
仪器检测原理外部光路结构：
光从光源发出，经过光纤导到反射探头打出，聚焦在在样品上。薄膜上下表面都会产生反射光，如下图所示：
两种反射光由反射探头采集，并由另一根光纤导入到分光结构，进行光谱排列。测量出干涉条纹：测量谱图：通过光谱软件，将样品放置于检测位置，可以得到反射率谱线，如下图所示：
再经过软件内部处理，得到干涉条纹的极大值和极小值。得到极值后再通过厚度公式，即可算出膜层厚度。
