JFD-2000非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理检测膜厚。可以测量同时可测干膜和湿膜。检测范围为0.5微米-100微米。
仪器适用范围l 湿膜厚度检测。l 干膜、硬涂层厚度检测。l 玻璃、塑料、凝胶、光刻胶、电介质厚度检测。l 汽车工业中薄膜、光油、底漆厚度检测。l 医疗设备中药囊、药品覆膜、包装薄膜厚度检测。l 光伏产业中透明导电氧化膜、减反射膜厚度检测。l 食品包装中卷式薄膜、液体隔离膜厚度检测。三、 样品要求l 薄膜在200-1100nm内的某一波段可部分透光。l 薄膜厚度范围：0.5um-100um（不同厚度范围采用不同配置）。l 基底表面和薄膜表面平整光洁。四、产品配置l 主控制箱内部包含光源、光谱仪、运动系统控制器。
通过USB线与电脑连接。
12V3A供电。
公司地址：东莞市东城区主山上三杞工业大道立洲科技园3号楼
膜厚仪,非接触膜厚检测,光学干涉膜厚检测
膜厚仪在什么条件下测量更准确？基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测资源网 如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
