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捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪 应用领域

JFD-2000 非接触膜厚检测仪 ，其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒， 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical），膜厚仪厂， 液晶显示(Displays)， 硬涂层(Hard coats)， 金属膜(Metal)，膜厚测试仪， 眼镜涂层(Ophthalmic) ， 聚对二甲笨(Parylene)， 电路板(PCBs&PWBs)， 多孔硅(Porous Silicon)， 光阻材料(Thick Resist)，半导体材料(Semiconductors) ，膜厚， 太阳光伏(Solar photovoltaics)， 真空镀层(Vacuum Coatings)， 圈筒检查(Web inspection applications)等。

捷扬光电  JFD-2000膜厚检测仪 使用说明

捷扬光电出品的JFD-2000是一款非接触式膜厚检测仪，操作简单.

具体操作如下：

1.首先连接电源，膜厚测量仪，打开光源。

2.使用USB线连接仪器主机与电脑。

3.打开软件，确认软件与仪器主机正常连接（如左下角显示未连接光谱仪，则在设备管理器里重新连接仪器）。

4.放入样品，升降探头以调节焦点，调节至能量在5000左右（如果能量太高达到饱和，则调小积分时间，能量太弱则调大积分时间）。

5.关闭光源进行存暗。

6.打开光源放入基底材料存参考。

7.放入样品进行膜厚检测。

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