捷扬光电 JFD-2000膜厚检测仪样品要求
捷扬光电的JFD-2000对样品要求不会很严格，只要在200-2500nm范围有响应，厚度在0.5-500um范围，膜厚仪原理，即可测量。
样品要求：
薄膜在200-2500nm内的某一波段可部分透光。
薄膜厚度范围：0.5um-500um（不同厚度范围采用不同配置）。
基底表面和薄膜表面平整。
捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪 测量光刻胶的厚度
成功测量光刻胶要面对一些独特的挑战， 而 捷扬光电 自动测量系统成功地解决这些问题。 这些挑战包括避免测量光源直接照射， 拥有涵盖广泛的光刻胶折射率资料库， 以及有能力处理光刻胶随烘烤和暴露而改变的折射率。
测量JFD-2000 膜厚检测仪 其它厚光刻胶的厚度有特别重要的应用。 因为旋涂的方法虽简便快速，膜厚，但可能会导致所需厚度不太准确。 而暴露时间取决于光刻胶的厚度，膜厚仪直销， 因此必须进行准确测量。 另外，由于正负光刻胶可以同时用于制造复杂的多层 MEMS 结构， 了解各层的厚度就变得极端重要。
捷扬光电 提供一系列的和测绘系统来测量 3nm 到 1mm 的单层、 多层、 以及单独的光刻胶薄膜。 捷扬光电JFD-2000膜厚检测仪 能通过准确的光谱反射建模来测量厚度 (和折射率)。 自主研发的算法使得“一键”分析成为可能，通常在一秒钟内即可得到结果。
联络 捷扬光电讨论您的测量需要。
捷扬光电 提供 免费测试 - 一般1-2 天即可得到结果。
捷扬光电(图),膜厚仪直销,膜厚由东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司提供。行路致远，砥砺前行。东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司（www.canneed.com）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为机械及工业制品项目合作较具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!
