在现代科学技术中，薄膜已有广泛的应用。薄膜厚度是薄膜性能参数的重要指标，膜厚仪，薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。目前，湿膜厚仪，两类主要的薄膜测量是基于光学和探针的方法。探针法测量厚度及粗糙度是通过监测精细探针划过薄膜表面时的偏移。探针法在测量速度和精度上受限，并且测量厚度时需要在薄膜里作一个“台阶”。探针法通常是测量不透明薄膜（例如金属）的方法。光学法是通过测量光与薄膜如何相互作用来检测薄膜的特性。光学法可以测量薄膜的厚度、粗糙度及光学参量。光学参量是用来描述光如何通过一种物质进行传播和反射的。一旦得知光学参量，就可以同其它重要参量（例如成分及能带）联系起来。两类最常用的光学测量法是反射光谱法及椭圆偏光法。反射光谱法是让光正（垂直）入射到样品表面，测量被薄膜表面反射回来的一定波长范围的光。椭圆偏光法测量的是非垂直入射光的反射光及光的两种不同偏振态。一般而言，膜厚仪批发，反射光谱法比椭圆偏光法更简单和经济，但它只限于测量较不复杂的结构。
JFD-2000非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理检测膜厚。可以测量同时可测干膜和湿膜。检测范围为0.5微米-100微米。
仪器适用范围l 湿膜厚度检测。l 干膜、硬涂层厚度检测。l 玻璃、塑料、凝胶、光刻胶、电介质厚度检测。l 汽车工业中薄膜、光油、底漆厚度检测。l 医疗设备中药囊、药品覆膜、包装薄膜厚度检测。l 光伏产业中透明导电氧化膜、减反射膜厚度检测。l 食品包装中卷式薄膜、液体隔离膜厚度检测。三、 样品要求l 薄膜在200-1100nm内的某一波段可部分透光。l 薄膜厚度范围：0.5um-100um（不同厚度范围采用不同配置）。l 基底表面和薄膜表面平整光洁。四、产品配置l 主控制箱内部包含光源、光谱仪、运动系统控制器。
通过USB线与电脑连接。
12V3A供电。
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