LED分析系统可测量LED的光谱强度和颜色。首先采用标准辐射校正光源对积分球进行校正，然后对LED的光度学参数和色彩空间参数进行测量。LED的驱动电源符合LIST标准，可以调节LED的输出功能。
激光分析用于测量连续或脉冲激光的光谱特征和强度。对于高功率激光应使用校正器以避免CCD探测器的饱和。系统应采用高线密度的光栅，一般1200线以上。
光谱学是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的一种技术。光谱测量被广泛应用于多种领域，如颜色测量、化学成份的浓度检测或电磁辐射分析等。
光谱仪器一般都包括入射狭缝、准直镜、色散元件（光栅或棱镜）、聚焦光学系统和探测器。而在单色仪中通常还包括出射狭缝，让整个光谱中一个很窄的部分照射到单象元探测器上。单色仪中的入射和出射狭缝往往位置固定而宽度可调，可以通过旋转光栅来对整个光谱进行扫描。
在九十年代，微电子领域中的多象元光学探测器迅猛发展，如 CCD 阵列、光电二极管（ PDA ）阵列等，使生产低成本扫描仪和 CCD 相机成为可能。
由于光通信技术对光纤的需求大大增长，从而开发了低损耗的石英光纤。该光纤同样可以用于测量光纤，把被测样品产生的信号光传导到光谱仪的光学平台中。由于光纤的耦合非常容易，所以可以很方便地搭建起由光源、采样附件和微型光谱仪组成的模块化测量系统。
东莞市捷扬光电科技有限公司核心产品有：微型光谱仪、显微反射率检测仪、显微透过率检测仪、显微激光诱导拉曼检测仪、显微激光诱导荧光检测仪、膜厚检测仪、厚度仪、水分仪。
