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瓷介电容器的用途CC81系列为一类高频高压瓷介电容器,用于UR≥0.63KV以上的高压谐振电路中,或用在低损耗和电容量稳定性的地方或用在要求温度系数有明确规定的地方。CT1系列为二类低频带低压瓷介电容器,用于对tgs值和容量稳定性要求...


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瓷介电容的用途

CC81系列为一类高频高压瓷介电容,用于UR≥0.63KV以上的高压谐振电路中,或用在低损耗和电容量稳定性的地方或用在要求温度系数有明确规定的地方。

CT1系列为二类低频带低压瓷介电容,用于对tgs值和容量稳定性要求不高的电器中,如低频、耦合、滤波、退耦等,亦可用作控制电路的时间常数元件。

CT81系列为二类低频高压瓷介电容器用于高压旁路和耦合电路中,介电常数大,容量大、损耗低。   

CS1系列——三类低频低压瓷介电容用于超高频,甚高频电路中作宽带旁路耦合之用,具有介电常数高、体积小、容量大的特点。

CT82系列——超高压瓷介电容多用于对耐压有超高要求的高压旁路中。具有体积小、耐温、耐湿性能好,损耗低的特点。





高压瓷片电容成品后测试要点

      一、耐压测试,包括额定工作电压24小时工作测试,也包括击穿耐压(即破坏性测试)电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压;

      二、老化测试,检查高压陶瓷电容在模拟工作环境状态下运作30~60天,测试其衰减其各项参数的变化;

      三、串联电阻测试,中堂瓷介电容器,绝缘电阻测试;

      四、拉力测试,即引线与芯片焊接的牢固度;

      五、正负温变化率测试,瓷介电容器批发,即-40度到+60度状况下,电容的变化率;

      六、局放测试,即局部放电测试,高压陶瓷电容器的局放十分的重要,所以出厂前一定要做好测试工作。

      七、寿命测试,即在老化测试的基础上,瓷介电容器厂家,再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试,得到的充放电次数就是充放电寿命,CBB电容厂家提醒你,这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的。

       八、外观检测,包括印字,规格,是否有误。

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