佐研电子材料(图),芯片底部填充胶,底部填充胶

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佐研电子材料(图),芯片底部填充胶,底部填充胶

底部填充胶工艺步骤:工艺步骤:烘烤——预热——点胶——固化——检验。烘烤环节笔者不做详细的工艺参数规定,建议各个厂家在实施时可以通过下列方法来确定参数:建议在120—130°C之间,温度过高会直接影响到焊锡球的质量。取样并通过不同时间...


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底部填充胶工艺步骤:

工艺步骤:烘烤——预热——点胶——固化——检验。

烘烤环节笔者不做详细的工艺参数规定,建议各个厂家在实施时可以通过下列方法来确定参数:

建议在120—130°C之间,温度过高会直接影响到焊锡球的质量。取样并通过不同时间段进行称量PCBA的重量变化,直到重量丝毫不变为止。

为什么要做烘烤这一步骤呢?通常填充物为聚酯类化合物,与水是不相溶的,如果在实施Under fill之前不保证主板的干燥,容易在填充后有小气泡产生,在最后的固化环节,气泡就会发生爆-炸,从而影响焊盘与PCB之间的粘结性,也有可能导致焊锡球与焊盘的脱落,所以说如果有气泡的话,底部填充胶,其效果比没有实施Under fill效果还要差。烘烤流程中还要注意一个“保质期”的问题,即烘烤后多长时间内必须消耗库存,笔者在这里也给出试验方法,底部填充胶水,通常将烘烤合格后的PCBA放在厂房环境里裸露,通过不同时间段进行称量,通常到其重量变化为止。在烘烤工艺中,参数制定的依据PCBA重量的变化,重量单位通常为10-6g。



流动型空洞

两种或更多种类的流动波阵面交会时包裹的气泡会形成流动型空洞,造成这种情况的一种原因可能与施胶的图案有关。在一块BGA板或芯片的多个侧面进行施胶可以提高底部填充胶(underfill)流动的速度,但是这也增大了产生空洞的几率。采用多种施胶图案,或者采用石英芯片或透明基板进行试验是了解空洞如何产生,并如何来消除空洞的最直接的方法。通过在多个施胶通道中采用不同颜色的下填充材料是使流动过程直观化的理想方法

温度会影响到底部填充胶(underfill)材料流动的波阵面。不同部件的温度差也会影响到胶材料流动时的交叉结合特性和流动速度,底部填充胶分类,因此在测试时应注意考虑温度差的影响。

通常,往往采用多个施胶通道以降低每个通道的填充量,但如果未能仔细设定和控制好各个施胶通道间的时间同步,则会增大引入空洞的几率。采用喷射技术来替代针滴施胶,控制好填充量的大小就可以减少施胶通道的数量1。胶体材料流向板上其他元件(无源元件或通孔)时,会造成下底部填充胶(underfill)材料缺失,这也会造成流动型空洞。采用喷射技术有助于对下底部填充胶(underfill)流动进行控制和定位。



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