最简单而且迅速地测量LED的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个捷扬光电的HCE光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标，然后用捷扬光电光谱分析软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μW/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μW/cm2, μJ/cm2, μW或μJ；光通量lux或lumen，色轴X, Y, Z, x, y, z, u, v和色温。
捷扬光电的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的捷扬光谱分析软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。
