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HPF系列微型光纤光谱仪用于荧光检测和薄膜厚度的检测

荧光测量的光信号一般比较微弱，需排除激发光对测试结果的影响，因此一般采用大狭缝、灵敏的探测器和高效率的滤光片。标准的激发光源采用脉冲氙灯或激光。

薄膜厚度测量系统测量的数据是样品对不同波长反射率曲线，这样就可以在已知薄膜厚度、折射率二者之一的情况下推导出另一者。

HCE光谱仪测量LED光谱

最简单而且迅速地测量LED的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个捷扬光电的HCE光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标，然后用捷扬光电光谱分析软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μW/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μW/cm2, μJ/cm2, μW或μJ；光通量lux或lumen，色轴X, Y, Z, x, y, z, u, v和色温。

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