捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪参数
厚度范围：0.5-100 μm
光谱范围：200-1100 nm
精度：0.05 μm 或3%
分辨率：0.001μm
重复性：0.02 μm
重现性：0.05 μm
厚度单位：μm
重量单位：gsm
主控制箱尺寸：300x223x130 mm
主控制箱重量：6 kg
罐体检测箱尺寸：357x458x797 mm
罐体检测箱重量：35 kg
片状支架尺寸：φ200x214 mm
片状支架重量：1.5 kg
电源：220V/50Hz
数据输出：软件保存到数据库或RS232
输出样品尺寸：片状，直径大于10mm
供气：无
捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪 简介
捷扬光电JFD-2000光学膜厚测量仪，膜厚测试仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，膜厚，界面友好，膜厚仪厂，是目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到2500nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。
捷扬光电(图)、膜厚仪厂、膜厚由东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司提供。东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司（www.canneed.com）为客户提供“光纤光谱仪,显微反射率检测仪,X光计数器,锂电池测厚/测重”等业务，公司拥有“嘉仪”等品牌。专注于机械及工业制品项目合作等行业，在广东 东莞 有较高知名度。欢迎来电垂询，联系人：刘先生。
