捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪 有机发光膜的厚度检测
有机发光显示器正迅速从实验室转向大规模生产。明亮，超薄，动态的特性使它们成为从手机到电视显示屏的选择。组成显示屏的多层薄膜的精密测量非常重要，但不能用传统接触型的轮廓仪，因为它会破坏显示屏表面。我们的JFD-2000膜厚检测仪将提供廉价，可靠，非侵入测量原型装置和全像素化显示屏。我们的光谱仪还可以测量大气敏感材料的化学变化。
测量透明导电氧化膜 不论是铟锡氧化物，氧化锌，还是聚合物（3，4-乙烯基），我们独有的光学模型，加上可见/近红外仪器，可以测得厚度和光学常数，费用和操作难度仅是光谱椭偏仪的一小部分。 测量复杂的有机材料 典型的有机发光显示膜包括几层： 空穴注入层，空穴传输层，以及重组/发光层。所有这些层都有不寻常有机分子（小分子和/或聚合物）。虽然有机分子高度反常色散，测量这些物质的光谱反射充满挑战，但对捷扬光电的JFD-2000却不尽然。我们的材料数据库覆盖整个OLED的开发历史，膜厚，能够处理随着有机分子而来的高折射散射和多种紫外光谱特征。 软基底上的薄膜 有机发光显示器具有真正柔性显示的潜力，要求测量像PET（聚乙烯）塑料这样有高双折射的基准，这对托偏仪测量是个严重的挑战： 或者模拟额外的复杂光学，或者打磨PET背面。 而这些对我们非偏振反射光谱来说都不需要，膜厚分析仪，极大地节约了人员培训和测量时间。 操作箱中测量 有机发光显示器材料对水和氧极度敏感。 很多科研小组都要求在控制的干燥氮气操作箱中测量。 而我们体积小，模块化，光纤设计的仪器提供非密封、实时“操作箱”测量。 捷扬光电 提供 免费测试 - 一般 1-2 天得到结果。 联络 我们讨论您的测量需要。
捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪 简介
捷扬光电JFD-2000光学膜厚测量仪，膜厚测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，膜厚分析，是目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到2500nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。
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