捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪 应用领域
JFD-2000 非接触膜厚检测仪 ，其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒，膜厚分析仪， 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）， 液晶显示(Displays)， 硬涂层(Hard coats)，膜厚检测， 金属膜(Metal)， 眼镜涂层(Ophthalmic) ， 聚对二甲笨(Parylene)，膜厚分析， 电路板(PCBs&PWBs)， 多孔硅(Porous Silicon)， 光阻材料(Thick Resist)，半导体材料(Semiconductors) ， 太阳光伏(Solar photovoltaics)，膜厚， 真空镀层(Vacuum Coatings)， 圈筒检查(Web inspection applications)等。
捷扬光电 JFD-2000膜厚检测仪样品要求
捷扬光电的JFD-2000对样品要求不会很严格，只要在200-2500nm范围有响应，厚度在0.5-500um范围，即可测量。
样品要求：
薄膜在200-2500nm内的某一波段可部分透光。
薄膜厚度范围：0.5um-500um（不同厚度范围采用不同配置）。
基底表面和薄膜表面平整。
膜厚分析仪|捷扬光电|膜厚由东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司提供。“光纤光谱仪,显微反射率检测仪,X光计数器,锂电池测厚/测重”就选东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司（www.canneed.com），公司位于：东莞市东城区主山上三杞工业大道立洲科技园3号楼501，多年来，嘉仪自动化坚持为客户提供优质的服务，联系人：刘先生。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。嘉仪自动化期待成为您的长期合作伙伴！
