捷扬光电 JFD-2000 非接触膜厚检测仪 简介
捷扬光电JFD-2000光学膜厚测量仪，膜厚分析仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，薄膜厚度检测仪，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到2500nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。
捷扬光电 JFD-2000膜厚检测仪 使用说明
捷扬光电出品的JFD-2000是一款非接触式膜厚检测仪，操作简单.
具体操作如下：
2.使用USB线连接仪器主机与电脑。
3.打开软件，确认软件与仪器主机正常连接（如左下角显示未连接光谱仪，膜厚，则在设备管理器里重新连接仪器）。
4.放入样品，升降探头以调节焦点，调节至能量在5000左右（如果能量太高达到饱和，则调小积分时间，能量太弱则调大积分时间）。
5.关闭光源进行存暗。
6.打开光源放入基底材料存参考。
7.放入样品进行膜厚检测。
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