射频测试工艺通常是手机等无线通讯类设备产线中最为复杂、影响流程,路由器屏蔽箱,通常也是产线的瓶颈。射频测试站通常由测试仪表、屏蔽箱、测试软件等几部分构成,通常又可分为校准测试、综合测试、天线测试等等几类。由于产能的要求,通常射频测试工艺由多个相同的测试站并行运行。某个或某些测试工位的通过率偏低;产出降低就会导致产线瓶颈、生产成本剧增,而究其原因,大致可分为: 产品设计或物料原因、测试的问题(误测问题)、射频干扰等环境因素、测试的不确定问题。
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